- 新一代USB“USB 3.0”的兼容性測試標(biāo)準(zhǔn)有望于2009年上半年出臺
- 預(yù)計09年底之前USB-IF會舉行最初的測試認(rèn)證大會“Compliance Workshop”。
- 支持取得USB-IF認(rèn)證的USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)的最終產(chǎn)品有望于2010年前后面世
新一代USB“USB 3.0”的兼容性測試標(biāo)準(zhǔn)有望于2009年上半年出臺。參與測試標(biāo)準(zhǔn)制定的美國安捷倫科技（Agilent Technologies）表示，預(yù)定于09年6月底之前推出“Test Specification 1.0”。這是安捷倫公司的USB應(yīng)用產(chǎn)品經(jīng)理Jim Choate在09年3月6日于東京都內(nèi)舉行的研討會“USB 3.0―SuperSpeed USB的沖擊”上宣布的。
Choate表示，將從測試標(biāo)準(zhǔn)出臺后的09年下半年開始進(jìn)行發(fā)送電路及接收電路的兼容性測試。之后，預(yù)計09年底之前USB-IF會舉行最初的測試認(rèn)證大會“Compliance Workshop”。支持取得USB-IF認(rèn)證的USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)的最終產(chǎn)品有望于2010年前后面世。
此外，Choate還表示，由USB-IF舉辦的USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)人員會議預(yù)定于09年5月中下旬在東京都內(nèi)舉行。
